解决方案

良率分析大数据平台 BDYAP

半导体智能工厂门户软件 iFab

芯片生产全生命周期追踪 Lot Tracing

智能生产排程 APS

产品

芯片自动缺陷分类 ADC

量测 AI Metrology

虚拟量测 Virtual Metrology

芯片良率（缺陷）管理系统 YMS/DMS

动态取样 Dynamic Sampling

多参数溯因分析 MVA

数据与自动化的平台

企业应用集成平台(ESB+API网关)

企业主数据管理平台